Infineon CoolMOS P6 Type N-Channel MOSFET, 23.8 A, 600 V Enhancement, 3-Pin TO-220

รูปภาพประกอบสินค้าเป็นเพียงรูปภาพใกล้เคียงเท่านั้น กรุณาอ่านรายละเอียดสินค้า

มีส่วนลดเมื่อซื้อจำนวนมาก

ยอดรวมย่อย (1 หลอด หลอดละ 50 ชิ้น)*

THB4,221.10

(ไม่รวมภาษีมูลค่าเพิ่ม)

THB4,516.60

(รวมภาษีมูลค่าเพิ่ม)

Add to Basket
เลือกหรือพิมพ์จำนวน
มีในสต็อก
  • 250 ชิ้นพร้อมจัดส่งจากคลังสินค้าต่างประเทศ
ต้องการสินค้าเพิ่มหรือไม่ ระบุจำนวนและคลิก ‘ตรวจสอบวันจัดส่ง’ เพื่อดูข้อมูลเพิ่มเติมเกี่ยวกับสต็อกสินค้าและการจัดส่ง
ชิ้น
ต่อหน่วย
ต่อหลอด*
50 - 50THB84.422THB4,221.10
100 - 150THB82.587THB4,129.35
200 +THB80.752THB4,037.60

*ตัวบ่งบอกราคา / price indicative

RS Stock No.:
214-9092
หมายเลขชิ้นส่วนของผู้ผลิต / Mfr. Part No.:
IPP60R160P6XKSA1
ผู้ผลิต:
Infineon
ค้นหาผลิตภัณฑ์ที่คล้ายกันโดยเลือกคุณลักษณะอย่างน้อยหนึ่งรายการ
เลือกทั้งหมด

Brand

Infineon

Product Type

MOSFET

Channel Type

Type N

Maximum Continuous Drain Current Id

23.8A

Maximum Drain Source Voltage Vds

600V

Package Type

TO-220

Series

CoolMOS P6

Mount Type

Through Hole

Pin Count

3

Maximum Drain Source Resistance Rds

160mΩ

Channel Mode

Enhancement

Maximum Power Dissipation Pd

176W

Minimum Operating Temperature

-55°C

Maximum Gate Source Voltage Vgs

20 V

Forward Voltage Vf

0.9V

Typical Gate Charge Qg @ Vgs

44nC

Length

10.36mm

Width

4.57 mm

Standards/Approvals

No

Height

9.45mm

Automotive Standard

No

The Infineon CoolMOS Series is a revolutionary technology for high voltage power MOSFETs, designed according to the super junction (SJ) principle and pioneered by Infineon Technologies. CoolMOS P6 series combines the experience of the leading SJ MOSFET supplier with high class innovation. The offered devices provide all benefits of a fast switching SJ MOSFET while not sacrificing ease of use. Extremely low switching and conduction losses make switching applications even more efficient, more compact, lighter and cooler.

Easy to use/drive

Qualified for industrial grade applications according to JEDEC (J-STD20 and JESD22)

Very high commutation ruggedness

ลิงก์ที่เกี่ยวข้อง